ПО для XRDynamic 500: XRDanalysis

Ключевые особенности

• Универсальный программный пакет для порошкового дифракционного анализа
• Функция поиска/сопоставления для быстрой и точной идентификации фазы
• Анализ Ритвельда с использованием совпавших или загруженных вручную фаз
• Оптимизированные рабочие процессы анализа, включая пакетный анализ (сразу нескольких массивов данных), для ускорения и упрощения ваших аналитических задач.

XRDanalysis - это программный пакет следующего поколения для анализа данных порошковой дифракции, полученных на XRDynamic 500 от Anton Paar. Это позволяет без особых усилий выполнять подгонку профиля, идентификацию фазы или количественную оценку, а также анализ микроструктуры на основе данных, собранных как в нормальных, так и нестандартных условиях. XRDanalysis имеет оптимизированные рабочие процессы анализа для различных задач, чтобы помочь пользователям, новичкам в XRD, но при этом сохраняет гибкость, необходимую более продвинутым пользователям.

---

Автоматизируйте свой анализ, объединив несколько задач анализа в одном рабочем процессе
Выполняйте анализ данных порошковой дифракции так, как Вы хотите, с помощью гибкой концепции рабочего процесса, которая позволяет объединять и выполнять несколько задач одним щелчком мыши. Начиная с поиска пиков, подгонки профиля, идентификации фазы и заканчивая анализом Ритвельда, все этапы могут быть объединены в единый рабочий процесс для автоматизации ваших задач анализа. Для оценки нескольких массивов данных, пакетная обработка также может быть легко выполнена, даже при наличии разных рабочих процессов для разных наборов данных, если это необходимо. Это делает рентгеновский анализ чрезвычайно легким для изучения и использования менее опытными пользователями, в то же время предоставляя опытным пользователям необходимую гибкость.

---

Улучшенная идентификация фазы, чтобы никогда не пропустить фазу
Алгоритмы поиска/сопоставления, используемые в XRDanalysis, позволяют идентифицировать фазы с помощью поиска в справочных базах данных, таких как базы данных PDF из ICDD. Улучшенный поиск остатков выполняется после добавления фаз, гарантируя, что даже самые незначительные фракции фаз могут быть идентифицированы. Более того, остаточный поиск также работает, когда фазы были загружены вручную (например, из CIF), поэтому Вам не нужно полагаться только на справочные базы данных во время идентификации фазы.

---

Точная количественная оценка даже для незначительных фаз
Опция уточнения Ритвельда в XRDanalysis позволяет выполнять количественный фазовый и структурный анализ с учетом всех микроструктурных эффектов образца и приборных эффектов. Анализ Ритвельда может быть выполнен на любой фазе, где доступны атомные положения. Фазы могут быть либо непосредственно перенесены из результатов сопоставления справочной базы данных, либо добавлены вручную из CIF; также возможны комбинации фаз из обоих источников. Уточненные параметры фазы обеспечивают не только фракции фазы, но и такие параметры микроструктуры, как размер кристаллитов и деформацию.

---

Настраиваемая отчетность
XRDanalysis позволяет быстро и легко экспортировать данные и графики с каждого этапа анализа в формате по вашему выбору. Оптимизированный интерфейс с пакетами Microsoft Office, функция создания отчетов и экспорта данных позволяют оптимально подготовить данные и графики для публикаций или для дальнейшего анализа за пределами XRDanalysis.

Технические характеристики

Системные требования	Процессор Intel™ i5, 2.67 ГГц или выше 16 Гб RAM (зависит от операционной системы) 1.5 Гб свободного места на диске
Поддерживаемые операционные системы	Microsoft Windows™ 8, 10; 64-бит