Новые режимы для атомно-силового микроскопа серии Tosca

           Anton Paar продолжает успешно работать над развитием и совершенствованием лабораторного и поточного оборудования даже в столь непростое время. Так совсем недавно были анонсированы новые режимы измерения для проведения исследований на АСМ Tosca 200/400.

           И мы рады сообщить, что теперь кроме стандартных контактного и полуконтактного (tapping) режимов стали доступны дополнительные режимы (не включены в базовую комплектацию) для определения таких характеристик как жесткость, поверхностный потенциал, распределение электрического поля, элетропроводимости, а так же поверхностных и около поверхностных магнитных свойств, все дополнительные аксессуары, проводящие кантилеверы, а так же специальная лицензия для новых методов включены в комплект каждого дополнительного режима.

Подробную информацию Вы можете скачать на основной странице АСМ серии Tosca 200/400, а так же обратившись к нашим специалистам отдела продаж: paar@avrora-lab.com, +7-(495)-258-83-05/-06/-07




Все поля, обозначенные звездочкой *, обязательны для заполнения
(0)