Высокоточное аналитическое оборудование
(отдел продаж)
(сервисный отдел)

Характеристика пористой мембраны с помощью AFM и GISAXS

Характеристика пористой мембраны с помощью AFM и GISAXS

Области применения

Полимерная мембрана со структурой пор, перпендикулярной подложке, характеризовалась с помощью системы Tosca™ 400 и системы SAXSpoint 2.0.

Anton Paar – Исследование мембран стало проще

 

Мембраны с наноразмерными порами обладают высоким потенциалом, например, в современных батареях и применениях для преобразования энергии, а также для очистки воды. Характеристика таких образцов относительно их структуры пор имеет жизненно важное значение для их эксплуатационных характеристик. Ниже представлена характеристика пористой полимерной мембраны толщиной 100 нм со структурой пор, перпендикулярной поверхности кремниевой подложки. Малоугловое рассеяние при скользящем падении пучка (GISAXS) – это высокочувствительный метод анализа поверхностных структур на наноуровне, дающий усредненную информацию по большой площади образца. Атомно-силовая микроскопия (AFM) может предоставить прямую визуальную информацию о локальной структуре поверхности с высоким пространственным разрешением. Это делает оба метода идеально взаимодополняющими для определения характеристики наноструктурированных поверхностей.

Рис. 1: 2D рисунок GISAXS с горизонтальным 1D разрезом (слева) и изображением топографии AFM (справа) нанопористой тонкой пленки ПЭ/ПЭГ
Рис. 1: 2D рисунок GISAXS с горизонтальным 1D разрезом (слева) и изображением топографии AFM (справа) нанопористой тонкой пленки ПЭ/ПЭГ

На изображении слева показан рисунок GISAXS исследуемой структуры, записанный системой SAXSpoint 2.0. Расстояние между порами составляет около 50 нм, рассчитанное по отражениям. Из относительных положений отражения (см. вставку) становится видимым гексагональное расположение пор. На изображении справа показано соответствующее изображение топографии AFM образца, полученное с помощью Tosca™ 400, нового AFM, созданного Anton Paar. Это подтверждает гексагональное упорядочение пор с периодичностью 50 нм и средним диаметром пор 20 нм.

Образец любезно предоставлен проф. Юн Ван (Нанкинский технический университет)

Узнайте больше о системе SAXSpoint 2.0


Все поля, обозначенные звездочкой *, обязательны для заполнения
(0)